S.M.A.R.T. (Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology)

1.1. S.M.A.R.T.

Представляет собой набор мини-подпрограмм, которые являются частью микрокода накопителя и определяют поддерживаемые диагностические функции. Наиболее распространенные среди них:
набор атрибутов, отражающих состояние отдельных параметров накопителя (до 30) внутренние тесты накопителя (self-test) журналы S.M.A.R.T. (ошибок, общего состояния, дефектных секторов и т.п.)
В настоящий момент не существует официальной документации или стандарта на технологию S.M.A.R.T.S.M.A.R.T. в своих накопителях. Обязательный минимум описан в последнем стандарте ATA/ATAPI-6.
В связи с этим, производители не публикуют полные характеристики и поддерживаемые функции

1.2. Развитие технологии S.M.A.R.T.

История технологии S.M.A.R.T. не так уж и богата подробностями:
SMART I предусматривал мониторинг основных жизненно важных параметров и запускался только после команды по интерфейсу в SMART II появилась возможность фоновой проверки поверхности, которая выполнялась накопителем автоматически во время "холостого хода"; появилась функция журналирования ошибок в SMART III впервые появилась не только функция обнаружения дефектов поверхности, но и возможность их восстановления "прозрачно" для пользователя и многие другие новшества
    Известно, что первыми разработали основы и предложили эту технологию совместно Western Digital, Seagate и Quantum. После этого их уже поддержали такие компании как IBM, Maxtor и Samsung. HitachiS.M.A.R.T. уже на стадии разработки SMART II, первыми предложив методику полной самодиагностики накопителя (extended self-test).
В настоящее время производители жестких дисков готовятся принять к использованию новый вариант технологии S.M.A.R.T. - "1024 S.M.A.R.T.", характерной особенностью которого будет заметно бОльший размер журналов, повсеместное использование мультисекторных журналов, более точные алгоритмы анализа показаний встроенных в накопитель сенсоров (термодатчики, сенсоры ударов, и т.п.) и многое другое.
Вот несколько новых функций: приняла участие в развитии технологии
введение алгоритма анализа температурного режима накопителя введение ограничения по минимальной и максимальной температуре в рабочем состоянии введение счетчика общего количества записанных секторов на протяжении жизненного цикла накопителя введение счетчика запусков внутренних алгоритмов восстановления (recovery counters)
    Главным же плюсом можно считать введение новых атрибутов, которые позволят контролировать состояние и рабочие характеристики по каждой из головок чтения/записи:
относительная устойчивость (стабильность "полета") головки исправление ошибок чтения (со "скрытыми" повторными попытками) автоматическое перераспределение дефектных участков поверхности при операциях записи счетчик-накопитель G-List для учета количества принятых ударных нагрузок счетчик-накопитель S-List для учета общего количества "программных" ошибок